HI-Q ®光相位噪声测试和测量系统
HI-Q ®光学测试测量系统 (TMS)使用零差方法提供超低相位噪声连续波激光源的全自动测量。
联系人：张震
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规格参数
| 规格 | |
| 相位噪底 | -140 ± 2 dBc/Hz @ >1 MHz |
| 光输入功率范围 | +5 至 +15 dBm |
| 偏移频率范围 | 10 Hz - 1 MHz |
| 分辨率带宽 | 0.1 Hz - 200 kHz |
| 可选配置 |
630 nm-2.2 µm 内的多个输入波长带 |
超低本底噪声 |
RIN 测量 |
高达 2 GHz 的扩展偏移频率范围 |
扩展输入功率范围 |
远程操作 |
性能水平和频率 |
范围选项和升级 |
产品详情
OEwaves 的 HI-Q ® 光学测试测量系统采用零差方法进行自动测量，能够测试超低相位噪声激光源。用户友好的测试系统能够快速测量激光相位噪声并估计其 FWHM 线宽低至 < 3 Hz，而无需复杂的设置或参考激光器，通常需要进行如此窄的线宽测量。
这种基于零差的系统在宽带测量方面是独一无二的，无需另一个低噪声参考激光源。整个系统通过 PC 轻松、快速和精确地运行，并提供简单的图形用户界面，无需任何额外的测试设备。无与伦比的超低相位/频率噪声分析仪系统可扩展到各种输入波长，并能够进行低相对强度噪声 (RIN) 测量。
产品特点
超低相位/频率噪声测量能力
快速实时测量
瞬时和扩展 FWHM 线宽分析
无需低噪声参考源
用户友好的界面
基于 PC 的简单操作
3U x 19” 机架系统
可定制的配置、升级和选项
