HI-Q ®射频测试和测量系统
HI-Q ®射频测试测量系统 (TMS) 利用微波光子学技术自动测量超低相位噪声振荡器。
联系人：张震
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规格参数
| 规格 | |
| RMS 定时抖动灵敏度 | 5 fs (100 Hz - 10 MHz) |
| 输入功率范围 | +5 至 +15 dBm |
| 杂散 | -50 dBc @ <1 kHz 偏移/-80 dBc @ > 1kHz 偏移 |
| 分辨率带宽 | 0.1 Hz - 200 kHz |
| 可选配置 | |
双通道互相关测量 | 扩展输入和偏移频率范围测量 |
两端口剩余相位噪声测量 | AM 噪声测量 |
扩展输入功率范围 | 光输入 |
性能水平和频率范围选项和升级 | |
产品详情
OEwaves 的 HI-Q ®射频测试测量系统 (TMS)
快速且完全自动化，并在指定频段的任何工作频率下生成射频或微波信号源的相位噪声频谱密度。
这种基于零差的系统在宽带测量方面是独一无二的，无需像传统外差方法那样需要另一个低噪声参考源或下变频器。该系统通过笔记本电脑使用简单的图形用户界面轻松、快速和精确地运行。
产品特点
超低绝对相位噪声/抖动测量能力
快速实时测量
全自动
互相关零差能力
无需低噪声参考源
用户友好的界面
基于 PC 的简单操作
6U x 19” 机架系统
可定制的配置、升级和选项
