ATR元件
ATR晶体由具有高折射率的足够坚硬的材料组成，晶体被配置成允许内部反射。样品与ATR-晶体保持接触，并将光谱记录为晶体透射曲线与样品吸收曲线的叠加。
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规格参数
产品详情
Tydex提供了广泛的衰减全反射(ATR)元素，用于测量总内反射率。通常，当样品很难用透射分析时，使用反射光谱。高架ATR系统用于凝胶、薄膜和粉末分析。对难处理的挥发性或大气敏感样品用不同的顶板ATR系统进行分析.它们还用于温度敏感分析和聚合物膜迁移，以及表面取向和反应动力学研究。单反射ATR系统用于高吸收和小样本的静态或流动分析
产品特点
当红外辐射进入折射率高、透射率好的材料时，会发生内反射。如果入射角超过临界角(Eq)。(1)与晶体密切接触的样品吸收能量。
全内反射条件:
其中n1，n2-两种介质的折射指数。
如果系统使用多反射附件，则仪器的光束会一次又一次地反射，每反射一次就会吸收一些能量。当光束离开晶体到达探测器时，它包含了来自样品的光谱数据。因此，可以记录吸收光谱。
影响ATR光谱的因素如下：
入射光波长；
样品和ATR晶体的折射率；
夹角；
晶体对样品接触的效率。
ATR晶体由具有高折射率的足够坚硬的材料组成，晶体被配置成允许内部反射。样品与ATR-晶体保持接触，并将光谱记录为晶体透射曲线与样品吸收曲线的叠加。
图1光通过ATR元件传播。
Tydex在几个几何图形中提供定制的ATR组件：梯形，平行图，杆和半球。材料有：ZnSe，Ge，Si，蓝宝石。所有的材料和产品都符合严格的控制标准，包括光谱特性和一般性能要求，以及规范控制。
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